供應(yīng)數(shù)量:1105
發(fā)布日期:2024/1/10
有效日期:2025/1/9
原 產(chǎn) 地:東莞品達
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軍標(biāo)降塵試驗箱:外形參考
軍標(biāo)降塵試驗箱可用于檢測各類型電子元器件、線路板、控制器、電子產(chǎn)品、開關(guān)等對飛散砂塵環(huán)境的適用能力。GJB 150.12A試驗一般包括吹砂試驗、吹塵試驗和降塵試驗三種,現(xiàn)有的技術(shù)已實現(xiàn)同時進行砂塵噴吹或降砂塵的電子產(chǎn)品檢測試驗,但是,目前的試驗設(shè)備大都是針對民用國標(biāo)制造的,并不能滿足軍標(biāo)的要求。
軍標(biāo)降塵試驗箱:參數(shù)
項目III 降塵 | 降塵風(fēng)速 | ≤0.2m/s |
降塵量 | 6g/m2/D | |
溫度 | 室溫RT to 80℃ | |
濕度 | ≤30%R.H | |
試驗時間 | 72h,或參考4.3.3.7.3表2降塵量和加速系數(shù) | |
粉塵要求 | 細塵75μm以下;粗塵150μm以下(詳見GJB 150.12A中4.3.3.6.3要求) | |
控制系統(tǒng) |
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安全裝置 |
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軍標(biāo)降塵試驗箱:安裝使用環(huán)境